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Yablon Scanning Probe Microscopy in Industrial Applications

Nanomechanical Characterization
1. Auflage 2013
ISBN: 978-1-118-72314-2
Verlag: John Wiley & Sons
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Yablon, Dalia G.
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