Yoo / Shi / Kim | Digital Forensics and Watermarking | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 392 Seiten

Reihe: Computer Science (R0)

Yoo / Shi / Kim Digital Forensics and Watermarking

17th International Workshop, IWDW 2018, Jeju Island, Korea, October 22-24, 2018, Proceedings
Erscheinungsjahr 2019
ISBN: 978-3-030-11389-6
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

17th International Workshop, IWDW 2018, Jeju Island, Korea, October 22-24, 2018, Proceedings

E-Book, Englisch, 392 Seiten

Reihe: Computer Science (R0)

ISBN: 978-3-030-11389-6
Verlag: Springer International Publishing
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Autoren/Hrsg.

Yoo, Chang D.
Shi, Yun-Qing
Kim, Hyoung Joong
Piva, Alessandro
Kim, Gwangsu
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