Yu / Wang | Advanced Field-Solver Techniques for RC Extraction of Integrated Circuits | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 246 Seiten, eBook

Yu / Wang Advanced Field-Solver Techniques for RC Extraction of Integrated Circuits


2014
ISBN: 978-3-642-54298-5
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, 246 Seiten, eBook

ISBN: 978-3-642-54298-5
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Resistance and capacitance (RC) extraction is an essential step in modeling the interconnection wires and substrate coupling effect in nanometer-technology integrated circuits (IC). The field-solver techniques for RC extraction guarantee the accuracy of modeling, and are becoming increasingly important in meeting the demand for accurate modeling and simulation of VLSI designs. Advanced Field-Solver Techniques for RC Extraction of Integrated Circuits presents a systematic introduction to, and treatment of, the key field-solver methods for RC extraction of VLSI interconnects and substrate coupling in mixed-signal ICs. Various field-solver techniques are explained in detail, with real-world examples to illustrate the advantages and disadvantages of each algorithm. This book will benefit graduate students and researchers in the field of electrical and computer engineering as well as engineers working in the IC design and design automation industries. Dr. Wenjian Yu is an Associate Professor at the Department of Computer Science and Technology at Tsinghua University in China; Dr. Xiren Wang is a R&D Engineer at Cadence Design Systems in the USA.
Yu / Wang Advanced Field-Solver Techniques for RC Extraction of Integrated Circuits jetzt bestellen!

Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Yu, Wenjian
Wang, Xiren

Weitere Infos & Material

Introduction.- Basic Field-Solver Techniques for RC Extraction.- Fast Boundary Element Methods for Capacitance Extraction (I).- Fast Boundary Element Methods for Capacitance Extraction (II).- Resistance Extraction of Complex 3-D Interconnects.- Substrate Resistance Extraction with Boundary Element Method.- Extracting Frequency-Dependent Substrate Parasitics.- Process Variation Aware Capacitance Extraction.- Statistical Capacitance Extraction Based on Continuous-Surface Geometric Model.- Fast Floating Random Walk Method for Capacitance Extraction.- FRW Based Solver for Chip-Scale Large Structures.

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.