E-Book, Englisch, 192 Seiten
Zhang / Ernst / De Saint Leger Benefiting from Thermal and Mechanical Simulation in Micro-Electronics
Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4757-3159-0
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
E-Book, Englisch, 192 Seiten
ISBN: 978-1-4757-3159-0
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark




