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Mathematik | Informatik

1  Treffer  für „Hay, David C“
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    Hay | Data Model Patterns: A Metadata Map | Buch | Sack Fachmedien

    Hay Data Model Patterns: A Metadata Map

    Erscheinungsjahr 2006
    Verlag: Elsevier Science
    ISBN: 978-0-12-088798-9
    Medium: Buch
    81,50 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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