Ergebnisse filtern
-
- 22
- 20
-
- 6
- 36
-
- 42
-
- 42
-
- 42
- 3
-
Bartels / Ermel / Sandborn Prediction
1. Auflage 2012Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-118-14064-2Medium: Buch139,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Dai / Ohadi / Das Optimum Cooling of Data Centers
Application of Risk Assessment and Mitigation Techniques1. Auflage 2013Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-5601-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Dai / Ohadi / Das Optimum Cooling of Data Centers
Application of Risk Assessment and Mitigation TechniquesSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-4248-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Pecht Soldering Processes and Equipment
1. Auflage 1993Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-471-59167-2Medium: Buch164,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Pecht The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries
1. Auflage 2025Verlag: Wiley-BlackwellISBN: 978-1-394-34292-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)130,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Pecht Integrated Circuit
1. Auflage 1994Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-471-59446-8Medium: Buch196,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Pecht China's Electronics Industry
The Definitive Guide for Companies and Policy Makers with Interest in ChinaErscheinungsjahr 2006Verlag: Elsevier IncISBN: 978-0-8155-1536-4Medium: Buch343,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Pecht Prognostics and Health Management of Electronics
Erscheinungsjahr 2008Verlag: Wiley-BlackwellISBN: 978-0-470-27802-4Medium: Buch169,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Pecht The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries
1. Auflage 2025Verlag: John Wiley & Sons IncISBN: 978-1-394-34290-7Medium: Buch145,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Pecht China's Electronics Industry
The Definitive Guide for Companies and Policy Makers with Interest in China1. Auflage 2006Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-8155-1643-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark330,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Pecht The Safety Challenges and Strategies of Using Lithium-Ion Batteries
1. Auflage 2025Verlag: Wiley-BlackwellISBN: 978-1-394-34291-4Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)130,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Pecht Parts Selection and Management
1. Auflage 2005Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-471-72387-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)136,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Pecht Parts Selection
1. Auflage 2004Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-471-47605-4Medium: Buch157,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Kyeong / Pecht Electrical Connectors
Design, Manufacture, Test, and Selection1. Auflage 2021Verlag: WileyISBN: 978-1-119-67976-9Medium: Buch150,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Ganesan / Pecht Lead-free Electronics
1. Auflage 2006Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-470-00779-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)150,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Ganesan / Pecht Lead-free Electronics
1. Auflage 2006Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-471-78617-7Medium: Buch176,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Pecht / Kang Prognostics and Health Management of Electronics
Fundamentals, Machine Learning, and the Internet of Things1. Auflage 2018Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-51530-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)150,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Pecht / Kang Prognostics and Health Management of Electronics
Fundamentals, Machine Learning, and the Internet of Things1. Auflage 2018Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-51535-7Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)150,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Ardebili / Pecht Encapsulation Technologies for Electronic Applications
Erscheinungsjahr 2009Verlag: Elsevier ScienceISBN: 978-0-8155-1576-0Medium: Buch219,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Pecht / Kang Prognostics and Health Management of Electronics
1. Auflage 2018Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-51533-3Medium: Buch157,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Ardebili / Pecht Encapsulation Technologies for Electronic Applications
1. Auflage 2009Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-8155-1970-6Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark170,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Kyeong / Pecht Electrical Connectors
Design, Manufacture, Test, and Selection1. Auflage 2020Verlag: WileyISBN: 978-1-119-67980-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)132,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Kyeong / Pecht Electrical Connectors
Design, Manufacture, Test, and Selection1. Auflage 2020Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-67982-0Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)132,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Liu / Pecht IC Component Sockets
1. Auflage 2004Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-471-46050-3Medium: Buch126,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Mellal / Pecht Nature-Inspired Computing Paradigms in Systems
Reliability, Availability, Maintainability, Safety and Cost (RAMS+C) and Prognostics and Health Management (PHM)Erscheinungsjahr 2021Verlag: Elsevier IncISBN: 978-0-12-823749-6Medium: Buch117,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Kapur / Pecht Reliability Engineering
1. Auflage 2014Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-118-84179-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)134,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Varde / Pecht Risk-Based Engineering
An Integrated Approach to Complex Systems—Special Reference to Nuclear PlantsErscheinungsjahr 2018Verlag: Springer SingaporeISBN: 978-981-13-0090-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Mellal / Pecht Nature-Inspired Computing Paradigms in Systems
Reliability, Availability, Maintainability, Safety and Cost (RAMS+C) and Prognostics and Health Management (PHM)1. Auflage 2021Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-12-823750-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark105,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Varde / Pecht Risk-Based Engineering
An Integrated Approach to Complex Systems-Special Reference to Nuclear Plants1. Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-981-13-0088-2Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Kapur / Pecht Reliability Engineering
1. Auflage 2014Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-118-14067-3Medium: Buch148,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Kapur / Pecht Reliability Engineering
1. Auflage 2014Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-118-84168-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)134,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Varde / Pecht Risk-Based Engineering
An Integrated Approach to Complex Systems-Special Reference to Nuclear PlantsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-981-13-4327-8Medium: Buch96,29 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Ardebili / Zhang / Pecht Encapsulation Technologies for Electronic Applications
2. Auflage 2018Verlag: Elsevier IncISBN: 978-0-12-811978-5Medium: Buch229,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Ardebili / Zhang / Pecht Encapsulation Technologies for Electronic Applications
2. Auflage 2018Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-12-811979-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark205,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 2020Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-0-429-60559-8Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)58,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 2019Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-40097-2Medium: Buch66,40 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 2020Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-0-429-61111-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)58,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Lall / Pecht / Hakim Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach1. Auflage 1997Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-0-8493-9450-8Medium: Buch169,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Bartels / Ermel / Sandborn Strategies to the Prediction, Mitigation and Management of Product Obsolescence
1. Auflage 2012Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-118-27546-7Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)119,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Bartels / Ermel / Sandborn Strategies to the Prediction, Mitigation and Management of Product Obsolescence
1. Auflage 2012Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-118-27544-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)119,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Dai / Ohadi / Das Optimum Cooling of Data Centers
Application of Risk Assessment and Mitigation Techniques1. Auflage 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-5602-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Pecht / Dasgupta / Evans Quality Conformance
1. Auflage 1994Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-471-59436-9Medium: Buch186,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort