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Quinten A Practical Guide to Surface Metrology
1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-29456-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Quinten Optical Properties of Nanoparticle Systems
Mie and Beyond1. Auflage 2010Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-63315-9Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)147,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Quinten Optische Schichtdickenmessung mit miniaturisierten Spektrometern
1. Auflage 2015Verlag: BoD - Books on DemandISBN: 978-3-7347-8386-9Medium: Buch36,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Quinten A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films
1. Auflage 2013Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-66437-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)83,99 € (inkl. MwSt.)
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Quinten Practical Determination of Optical Constants from Spectral Measurements
2. Auflage 2018Verlag: BoD - Books on DemandISBN: 978-3-7460-9032-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark11,99 € (inkl. MwSt.)
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Quinten A Practical Guide to Surface Metrology
1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-29453-3Medium: Buch149,79 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Quinten Practical Determination of Optical Constants from Spectral Measurements
2. Auflage 2018Verlag: BoD - Books on DemandISBN: 978-3-7460-2486-8Medium: Buch18,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Quinten Optical Properties of Nanoparticle Systems
Mie and Beyond1. Auflage 2010Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-63314-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)147,99 € (inkl. MwSt.)
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Quinten Optische Schichtdickenmessung mit miniaturisierten Spektrometern
1. Auflage 2015Verlag: BoD - Books on DemandISBN: 978-3-7392-5122-6Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark25,99 € (inkl. MwSt.)
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Quinten A Practical Guide to Surface Metrology
1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-29454-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Quinten A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films
1. Auflage 2012Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-66435-1Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)83,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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