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Seiler / Diebold / Shaffner Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000
International Conference1. Auflage 2001Verlag: AIP PressISBN: 978-1-56396-967-6Medium: Buch245,03 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Seiler / Diebold / McDonald Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011
1. Auflage 2013Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0973-6Medium: Buch171,15 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Secula / Seiler / Khosla Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
20091. Auflage 2009Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0712-1Medium: Buch199,72 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Seiler / Diebold / McDonald Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics1. Auflage 2007Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0441-0Medium: Buch147,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Seiler / Diebold / McDonald Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005
1. Auflage 2005Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0277-5Medium: Buch327,42 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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