Liebe Besucherinnen und Besucher,
aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.
Ihr Team von Sack Fachmedien
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Salvo / Hernandez-Silveira Wireless Medical Systems and Algorithms
Design and ApplicationsErscheinungsjahr 2016Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4987-0078-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)121,99 € (inkl. MwSt.)
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Kurinec / Walia Energy Efficient Computing & Electronics
Devices to SystemsErscheinungsjahr 2019Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-71036-8Medium: Buch263,80 € (inkl. MwSt.)
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Kurinec / Walia Energy Efficient Computing & Electronics
Devices to Systems1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-65600-3Medium: Buch141,60 € (inkl. MwSt.)
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Todri-Sanial / Tan Physical Design for 3D Integrated Circuits
1. Auflage 2021Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-77887-3Medium: Buch140,10 € (inkl. MwSt.)
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Todri-Sanial / Tan Physical Design for 3D Integrated Circuits
1. Auflage 2015Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4987-1036-7Medium: Buch144,50 € (inkl. MwSt.)
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Weide-Zaage / Chrzanowska-Jeske Semiconductor Devices in Harsh Conditions
1. Auflage 2016Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4987-4380-8Medium: Buch113,50 € (inkl. MwSt.)
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Weide-Zaage / Chrzanowska-Jeske Semiconductor Devices in Harsh Conditions
1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-65636-2Medium: Buch112,80 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Medical Imaging, Industrial Testing, and Security Applications2. Auflage 2024Verlag: CRC PressISBN: 978-1-032-11091-2Medium: Buch78,00 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski / Iwanczyk Radiation Detection Systems
Sensor Materials, Systems, Technology, and Characterization Measurements2. Auflage 2021Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-70715-6Medium: Buch203,80 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Medical Imaging, Industrial Testing, and Security Applications2. Auflage 2021Verlag: CRC PressISBN: 978-1-032-11087-5Medium: Buch202,40 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski / Iwanczyk Radiation Detection Systems
Sensor Materials, Systems, Technology, and Characterization Measurements2. Auflage 2024Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-70717-0Medium: Buch78,60 € (inkl. MwSt.)
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Yuan Low Power Circuits for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2018Verlag: Taylor & Francis LtdISBN: 978-1-138-58001-5Medium: Buch135,50 € (inkl. MwSt.)
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Yuan Low Power Circuits for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-73214-1Medium: Buch93,30 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Two Volume Set2. Auflage 2024Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-032-11342-5Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Siu Iot and Low-Power Wireless
Circuits, Architectures, and Techniques1. Auflage 2018Verlag: CRC PressISBN: 978-0-8153-6971-4Medium: Buch225,50 € (inkl. MwSt.)
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Iwanczyk / Iniewski Radiation Detection Systems
Two Volume Set2. Auflage 2021Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-032-06955-5Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Siu IoT and Low-Power Wireless
Circuits, Architectures, and Techniques1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-65602-7Medium: Buch136,90 € (inkl. MwSt.)
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Walia Low Power Semiconductor Devices and Processes for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2020Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-73384-1Medium: Buch91,80 € (inkl. MwSt.)
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Walia Low Power Semiconductor Devices and Processes for Emerging Applications in Communications, Computing, and Sensing
1. Auflage 2018Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-58798-4Medium: Buch247,00 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski Semiconductor Radiation Detection Systems
1. Auflage 2010Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4398-0385-1Medium: Buch201,50 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2942-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)121,99 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2941-7Medium: Buch209,50 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2017Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-07577-1Medium: Buch131,20 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski Nano-Semiconductors
Devices and Technology1. Auflage 2017Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-07266-4Medium: Buch174,20 € (inkl. MwSt.)
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Iniewski Nano-Semiconductors
Devices and Technology1. Auflage 2011Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4398-4835-7Medium: Buch251,50 € (inkl. MwSt.)
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