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aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.
Ihr Team von Sack Fachmedien
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Elektronik | Nachrichtentechnik
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Rudolph / Fager / Root Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques
Erscheinungsjahr 2011Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-0-521-76210-6Medium: Buch154,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Root / Verspecht / Horn X-Parameters
Erscheinungsjahr 2017Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-0-521-19323-8Medium: Buch141,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pedro / Root / Xu Nonlinear Circuit Simulation and Modeling
Fundamentals for Microwave DesignErscheinungsjahr 2018Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-108-64641-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)89,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Pedro / Root / Xu Nonlinear Circuit Simulation and Modeling
Erscheinungsjahr 2019Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-107-14059-2Medium: Buch127,10 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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