Goodhew / Humphreys / Beanland | Electron Microscopy and Analysis | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 254 Seiten

Goodhew / Humphreys / Beanland Electron Microscopy and Analysis


3. Auflage 2000
ISBN: 978-1-4822-8934-3
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

E-Book, Englisch, 254 Seiten

ISBN: 978-1-4822-8934-3
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Autoren/Hrsg.

Goodhew, Peter J.
Humphreys, John
Beanland, Richard
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