Krstic | Delay Fault Testing for VLSI Circuits | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 14, 191 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4615-5597-1
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 14, 191 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-1-4615-5597-1
Verlag: Springer US
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Autoren/Hrsg.

Krstic, Angela
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