Meier | Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Deutsch, 255 Seiten

Meier Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik

Eine Einführung für Verständnis, Intuition und Überblick
Erscheinungsjahr 2020
ISBN: 978-3-662-61488-4
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Eine Einführung für Verständnis, Intuition und Überblick

E-Book, Deutsch, 255 Seiten

ISBN: 978-3-662-61488-4
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Dieses Lehrbuch führt in die zentralen Begriffe und Konzepte der Wahrscheinlichkeitsrechnung, der beschreibenden sowie der schließenden Statistik ein. Der Fokus liegt dabei auf einem intuitiven Verständnis der grundlegenden Konzepte, Zusammenhänge und Methoden. Trotzdem wird der Stoff mathematisch präzise präsentiert.

Innerhalb jedes Kapitels finden Sie verschiedene didaktische Elemente, die Ihnen den Zugang und das Verständnis, aber auch die Orientierung deutlich erleichtern:

  • Kurzübersicht der wichtigsten Begriffe am Kapitelanfang
  • Anschauliche Erklärungen und Beispiele
  • Zentrale Sachverhalte und Definitionen
  • Warnungen vor häufigen Missverständnissen
  • Separate Textabschnitte zur Intuition
  • Grafische oder tabellarische Übersichten am Kapitelende

Am Ende der meisten Abschnitte finden Sie kurze Lernkontrollen – hier können Sie Ihr Wissen überprüfen, indem Sie verschiedene Aussagen alswahr oder falsch einordnen. Die Lösungen finden Sie im Anhang, je nach Schwierigkeitsgrad mit kurzem Lösungsweg. Am Ende der Kapitel finden Sie außerdem Verständnisfragen, die noch einmal die wichtigsten Inhalte abfragen und so Ihren Lernfortschritt zeigen.

Meier Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik jetzt bestellen!

Zielgruppe

Lower undergraduate

Autoren/Hrsg.

Meier, Lukas

Weitere Infos & Material

WAHRSCHEINLICHKEITSRECHNUNG UND DESKRIPTIVE STATISTIK.- Grundlagen der Wahrscheinlichkeitsrechnung.- Wahrscheinlichkeitsverteilungen.- Deskriptive Statistik.- Mehrdimensionale Verteilungen.- Grenzwertsätze.- SCHLIESSENDE STATISTIK.- Parameterschätzungen.- Statistische Tests und Vertrauensintervalle für eine Stichprobe.- Vergleich zweier Stichproben.- Lineare Regression.- ANHÄNGE.- Zusammenfassungen und Tabellen.- Herleitungen.- Lösungen zu den Kontrollfragen.

Dr. Lukas Meier forscht und lehrt am Seminar für Statistik der ETH Zürich. Als Leiter des Weiterbildungslehrgangs in angewandter Statistik und Ko-Leiter der statistischen Beratungsstelle der ETH Zürich liegt dabei der Schwerpunkt auf angewandten Problemen.    

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.