Pavlov / Sachdev | CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 40, 194 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test
1. Auflage 2008
ISBN: 978-1-4020-8363-1
Verlag: Springer Netherlands
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Process-Aware SRAM Design and Test

E-Book, Englisch, Band 40, 194 Seiten

Reihe: Frontiers in Electronic Testing

ISBN: 978-1-4020-8363-1
Verlag: Springer Netherlands
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

Prof. Sachdev has authored several successful books with Springer

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Autoren/Hrsg.

Pavlov, Andrei
Sachdev, Manoj
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