Pichler | Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 554 Seiten

Reihe: Computational Microelectronics

Pichler Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-3-7091-0597-9
Verlag: Springer Vienna
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, 554 Seiten

Reihe: Computational Microelectronics

ISBN: 978-3-7091-0597-9
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Autoren/Hrsg.

Pichler, Peter
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