Pietsch / Holy / Baumbach | High-Resolution X-Ray Scattering | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 408 Seiten

Reihe: Advanced Texts in Physics

Pietsch / Holy / Baumbach High-Resolution X-Ray Scattering

From Thin Films to Lateral Nanostructures
2. Auflage 2004
ISBN: 978-1-4757-4050-9
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

From Thin Films to Lateral Nanostructures

E-Book, Englisch, 408 Seiten

Reihe: Advanced Texts in Physics

ISBN: 978-1-4757-4050-9
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Autoren/Hrsg.

Pietsch, Ullrich
Holy, Vaclav
Baumbach, Tilo
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