Tolan | X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 148, 198 Seiten

Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

Tolan X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films

Materials Science and Basic Research
Erscheinungsjahr 2007
ISBN: 978-3-540-49525-3
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Materials Science and Basic Research

E-Book, Englisch, Band 148, 198 Seiten

Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

ISBN: 978-3-540-49525-3
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