E-Book, Englisch, Band 148, 198 Seiten
Tolan X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
Erscheinungsjahr 2007
ISBN: 978-3-540-49525-3
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
Materials Science and Basic Research
E-Book, Englisch, Band 148, 198 Seiten
Reihe: Springer Tracts in Modern Physics
ISBN: 978-3-540-49525-3
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark




