Buch, Englisch, 376 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 745 g
XRF, Mössbauer, XPS, NAA and Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Buch, Englisch, 376 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 745 g
ISBN: 978-3-540-30277-3
Verlag: Springer
This book compares and offers a comprehensive overview of nine analytical techniques important in material science and many other branches of science. All these methods are already well adapted to applications in diverse fields such as medical, environmental studies, archaeology, and materials science. This clearly presented reference describes and compares the principles of the methods and the various source and detector types.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie Massenspektrometrie, Spektroskopie, Spektrochemie
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Mikroskopie, Spektroskopie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
- Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie Magnetresonanz
- Naturwissenschaften Physik Angewandte Physik
Weitere Infos & Material
X-ray Fluorescence (XRF) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE).- Rutherford Backscattering Spectroscopy.- Elastic Recoil Detection.- Mössbauer Spectroscopy (MS).- X-Ray Photoelectron Spectroscopy.- Neutron Activation Analysis.- Nuclear Reaction Analysis and Particle-Induced Gamma-Ray Emission.- Accelerator Mass Spectrometry (AMS).
