Liebe Besucherinnen und Besucher,

aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.

Ihr Team von Sack Fachmedien

Wang / Stroud / Touba | System-on-Chip Test Architectures | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 896 Seiten, Web PDF

Wang / Stroud / Touba System-on-Chip Test Architectures

Nanometer Design for Testability
Erscheinungsjahr 2010
ISBN: 978-0-08-055680-2
Verlag: Elsevier Science & Techn.
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Nanometer Design for Testability

E-Book, Englisch, 896 Seiten, Web PDF

ISBN: 978-0-08-055680-2
Verlag: Elsevier Science & Techn.
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Wang / Stroud / Touba System-on-Chip Test Architectures jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Wang, Laung-Terng
Stroud, Charles E.
Touba, Nur A.
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.