Danhof / Fraunhofer IAF, Freiburg / Ambacher | Local charge carrier diffusion and recombination in InGaN quantum wells | Buch | 978-3-8396-0587-5 | www.sack.de

Buch, Englisch, Band 13, 140 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm

Reihe: Science for Systems

Danhof / Fraunhofer IAF, Freiburg / Ambacher

Local charge carrier diffusion and recombination in InGaN quantum wells


Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-3-8396-0587-5
Verlag: Fraunhofer Verlag

Buch, Englisch, Band 13, 140 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm

Reihe: Science for Systems

ISBN: 978-3-8396-0587-5
Verlag: Fraunhofer Verlag


Light emitting InGaN/GaN quantum wells were studied with the help of confocal micro photoluminescence microscopy. The focus is put on charge carrier dynamics in the quantum wells. Recombination rates of different recombination mechanisms are investigated, especially considering the efficiency loss of InGaN based light emitting diodes at high charge carrier densities, known as droop. This is done with the help of the so called ABC model and measurements of the charge carrier density dependent recombination. An expansion of the ABC model beyond Maxwell-Boltzmann statistics is also discussed to include high charge carrier density effects. Additionally, lateral charge carrier motion in the quantum well is directly observed and analyzed, both at room temperature and at 15 K.

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