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Angewandte Informatik

1  Treffer  für „Adams, R. Dean“
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    Adams | High Performance Memory Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Adams High Performance Memory Testing

    Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7255-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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