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Subramoney / Rotkin Applied Physics of Carbon Nanotubes
Fundamentals of Theory, Optics and Transport Devices2005Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-23110-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Dragoman 2D Nanoelectronics
Physics and Devices of Atomically Thin Materials1. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-48435-8Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Dragoman 2D Nanoelectronics
Physics and Devices of Atomically Thin MaterialsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-83942-4Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Máthé Physical Properties of Low-Dimensional Systems
A Theoretical Study on Quantum Dots, Nanowires and GrapheneErscheinungsjahr 2025Verlag: SpringerISBN: 978-3-031-91601-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy
Volume 22009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-26070-4Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Oepen / Hopster Magnetic Microscopy of Nanostructures
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07286-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy
2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-34314-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI
Scanning Probe Microscopy Techniques2009Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-85036-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy
Volume 3Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-35876-5Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-15611-4Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I
2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-00527-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII
Characterization2009Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-85038-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Voigtländer Atomic Force Microscopy
2. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-13653-6Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I
Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05602-4Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy
Volume 22009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-01494-9Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Guimarães Principles of Nanomagnetism
Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-86618-5Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods IV
Industrial ApplicationsSoftcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-06597-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Voigtländer Atomic Force Microscopy
2. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-13656-7Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures
2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-67817-5Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI
Characterization2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-37318-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Marinello / Savio / Passeri Acoustic Scanning Probe Microscopy
2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-27493-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III
Characterization2006Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-26909-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05844-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V
Scanning Probe Microscopy Techniques2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-37315-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics
2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-20157-8Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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