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Naturwissenschaften

1  Treffer  für „Hofer, Werner A.“
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    Foster / Hofer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Foster / Hofer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-2306-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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