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Diebold Handbook of Silicon Semiconductor Metrology
1. Auflage 2019Verlag: Taylor & Francis LtdISBN: 978-0-367-39716-6Medium: Buch66,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Diebold Handbook of Silicon Semiconductor Metrology
1. Auflage 2001Verlag: CRC PressISBN: 978-0-8247-0506-0Medium: Buch487,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Diebold Handbook of Silicon Semiconductor Metrology
Erscheinungsjahr 2001Verlag: CRC PressISBN: 978-0-203-90454-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)92,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Diebold Handbook of Silicon Semiconductor Metrology
1. Auflage 2001Verlag: CRC PressISBN: 978-1-135-55483-5Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)92,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Seiler / Diebold / Shaffner Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000
International Conference1. Auflage 2001Verlag: AIP PressISBN: 978-1-56396-967-6Medium: Buch245,03 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Seiler / Diebold / McDonald Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011
1. Auflage 2013Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0973-6Medium: Buch171,15 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Seiler / Diebold / McDonald Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics1. Auflage 2007Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0441-0Medium: Buch147,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Seiler / Diebold / McDonald Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005
1. Auflage 2005Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0277-5Medium: Buch327,42 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Seiler / Diebold / Shaffner Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003
2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology1. Auflage 2003Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0152-5Medium: Buch176,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Secula / Seiler / Khosla Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
20091. Auflage 2009Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0712-1Medium: Buch199,72 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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