Heuberger / Lange / Ryssel | ESSDERC '89 | Buch | 978-3-642-52316-8 | www.sack.de

Buch, Englisch, 963 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 1475 g

Heuberger / Lange / Ryssel

ESSDERC '89

19th European Solid State Device Research Conference, Berlin
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1989
ISBN: 978-3-642-52316-8
Verlag: Springer

19th European Solid State Device Research Conference, Berlin

Buch, Englisch, 963 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 1475 g

ISBN: 978-3-642-52316-8
Verlag: Springer

The conference ESSDERC '89 held in September 1989 in Berlin was concerned with the physics, electrical characteristics, reliability and processing of solid state devices and electronic materials. The proceedings contain all invited and contributed papers of the conference and thus becomes a state-of-the-art-report of solid state device research in Europe 1989.
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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Heuberger, Anton
Lange, Peter
Ryssel, Heiner

Weitere Infos & Material

From the Contents: Silicon and Compound Semiconductor Devices: MOS and Bipolar Structures.- New Devices, Submicron Devices.- III-V and II-VI Devices.- Quantum Well Devices and Heterostructures.- Lasers and Photodetectors.- Integrated Optoelectronics.- Sensors.- Cryogenic Devices.- Device Modelling.- Device Characterization.- Radiation Damage, Radiation Hardening.- Superconductivity in Semiconductor Devices.- Silicon and Compound Semiconductor Technology: Technology on III-V and II-VI Compounds.- Epitaxy Processes (LPE, MBE, MO-CVD,.).- Deposition Processes.- Plasma Processes.- Rapid Thermal Annealing.- Submicron Lithography.- Passivation.- Non-destructive Testing of Wafers, Layers, Devices.- Reliability and Defects.- Process Modelling.

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