Murr | Electron and Ion Microscopy and Microanalysis | Buch | 978-0-367-40294-5 | sack.de

Buch, Englisch, 856 Seiten, Format (B × H): 178 mm x 254 mm, Gewicht: 1576 g

Murr

Electron and Ion Microscopy and Microanalysis

Principles and Applications, Second Edition,
2. Auflage 2019
ISBN: 978-0-367-40294-5
Verlag: CRC Press

Principles and Applications, Second Edition,

Buch, Englisch, 856 Seiten, Format (B × H): 178 mm x 254 mm, Gewicht: 1576 g

ISBN: 978-0-367-40294-5
Verlag: CRC Press

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

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Zielgruppe

Academic and Professional Practice & Development

Autoren/Hrsg.

Murr, Lawrence E

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

CHAPTER 1: FUNDAMENTAL PROPERTIES OF ELECTRONS AND IONS. CHAPTER 2: ELECTRON EMISSION AND EMISSION AND IONIZATION MICROSCOPY. CHAPTER. 3: ELECTRON AND ION OPTICS AND OPTICAL SYSTEMS. CHAPTER 4: ELECTRON AND ION PROBE MICROANALYSIS. CHAPTER 5: ELECTRON AND ION MICROSCOPY OF SURFACES. CHAPTER 6: ELECTRON DIFFRACTION. CHAPTER 7: TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY. CHAPTER 8: HIGH-VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY.

Lawrence E. Murr

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