Yeung / Kwok / Fred | Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 939 Seiten, eBook

Reihe: Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics

Yeung / Kwok / Fred Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
2006
ISBN: 978-3-540-37241-7
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

E-Book, Englisch, 939 Seiten, eBook

Reihe: Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics

ISBN: 978-3-540-37241-7
Verlag: Springer
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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Yeung, Dit-Yan
Kwok, James T.
Fred, Ana
Roli, Fabio
de Ridder, Dick

Weitere Infos & Material

Invited Talks.- SSPR.- Poster Papers.- SPR.- Poster Papers.

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