Buch, Englisch, 94 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 342 g
Buch, Englisch, 94 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 342 g
ISBN: 978-3-319-06339-3
Verlag: Springer International Publishing
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
Weitere Infos & Material
Introduction.- Background.- Fault Tolerance Techniques for Processors.- Proposed Techniques to Detect Transient Faults in Processors.- Simulation Fault Injection Experimental Results.- Configuration Bitstream Fault Injection Experimental Results.- Radiation Experimental Results.- Conclusions and Future Work.