Buch, Englisch, 94 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 1825 g
Buch, Englisch, 94 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 1825 g
ISBN: 978-3-319-35997-7
Verlag: Springer
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
Weitere Infos & Material
Introduction.- Background.- Fault Tolerance Techniques for Processors.- Proposed Techniques to Detect Transient Faults in Processors.- Simulation Fault Injection Experimental Results.- Configuration Bitstream Fault Injection Experimental Results.- Radiation Experimental Results.- Conclusions and Future Work.