Benedek | Point and Extended Defects in Semiconductors | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 202, 287 Seiten

Reihe: NATO Science Series B:

Benedek Point and Extended Defects in Semiconductors


Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4684-5709-4
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 202, 287 Seiten

Reihe: NATO Science Series B:

ISBN: 978-1-4684-5709-4
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Autoren/Hrsg.

Benedek, Giorgio
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