Bou-Sleiman / Ismail | Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 89 Seiten

Reihe: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering

Bou-Sleiman / Ismail Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs


1. Auflage 2011
ISBN: 978-1-4419-9548-3
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, 89 Seiten

Reihe: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering

ISBN: 978-1-4419-9548-3
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.

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Autoren/Hrsg.

Bou-Sleiman, Sleiman
Ismail, Mohammed
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