Diaz / Duvvury | Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 289, 148 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Diaz / Duvvury Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4615-2788-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 289, 148 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 978-1-4615-2788-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Diaz / Duvvury Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Diaz, Carlos H.
Duvvury, Charvaka
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.