Dong | Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials | Buch | 978-3-8440-8517-4 | sack.de

Buch, Englisch, 173 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 260 g

Reihe: Reports on Measurement and Sensor Systems

Dong

Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials


1. Auflage 2022
ISBN: 978-3-8440-8517-4
Verlag: Shaker

Buch, Englisch, 173 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 260 g

Reihe: Reports on Measurement and Sensor Systems

ISBN: 978-3-8440-8517-4
Verlag: Shaker

Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials

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Autoren/Hrsg.

Dong, Xingchen
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