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Mathematik | Informatik
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Biemer Latent Class Analysis of Survey Error
1. Auflage 2011Verlag: WileyISBN: 978-0-470-28907-5Medium: Buch119,50 € (inkl. MwSt.)
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Hill / Biemer / Buskirk Big Data Meets Survey Science
A Collection of Innovative Methods1. Auflage 2020Verlag: WileyISBN: 978-1-118-97632-6Medium: Buch120,50 € (inkl. MwSt.)
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Biemer / de Leeuw / Eckman Total Survey Error in Practice
1. Auflage 2017Verlag: WileyISBN: 978-1-119-04167-2Medium: Buch119,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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