Ergebnisse filtern
-
- 2
-
- 1
- 1
-
- 2
-
- 2
-
- 2
-
- 2
-
- 2
-
- 2
Naturwissenschaften
-
Kaupp Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Application to Rough and Natural Surfaces1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-06663-4Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Kaupp Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Application to Rough and Natural Surfaces1. Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-28405-5Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
