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Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8142-7Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7991-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47040-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark128,39 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Chadradhar / Agrawal / Bushnell Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-3958-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Chadradhar / Agrawal / Bushnell Neural Models and Algorithms for Digital Testing
1991. Auflage 1991Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9165-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Chadradhar / Bushnell / Agrawal Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1991Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-6767-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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