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Bhattacharya / Hayes Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
1990. Auflage 1989Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9058-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Hayes / Bhattacharya Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1990Verlag: Springer USISBN: 978-1-4612-8819-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Bhattacharya / Hayes Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1527-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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