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Shin / Tsui / Kim VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power
23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-46097-0Medium: eBookFormat: PDF
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Shin / Tsui / Reis VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power
23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-46096-3Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Shin / Tsui / Reis VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power
23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected PapersSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-83440-5Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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