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Garg Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
Mitigating Soft Errors and Process Variations2010. Auflage 2009Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-0930-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Garg Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
Mitigating Soft Errors and Process Variations1. Auflage 2009Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-0931-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark106,99 € (inkl. MwSt.)
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Garg Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
Mitigating Soft Errors and Process Variations2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8510-1Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Jayakumar / Garg / Paul Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design
2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8529-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Jayakumar / Paul / Garg Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design
1. Auflage 2009Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-0950-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark106,99 € (inkl. MwSt.)
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Jayakumar / Paul / Garg Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design
2010. Auflage 2009Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-0949-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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