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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9714-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Khare / Maly From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and ApplicationsErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1377-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Maly / Khare From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1996Verlag: Springer USISBN: 978-1-4612-8595-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Director / Maly / Strojwas VLSI Design for Manufacturing: Yield Enhancement
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-1521-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Director / Strojwas / Maly VLSI Design for Manufacturing: Yield Enhancement
1990Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9054-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Director / Strojwas / Maly VLSI Design for Manufacturing: Yield Enhancement
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1990Verlag: Springer USISBN: 978-1-4612-8816-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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