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aufgrund unseres Sommerfestes sind wir am 03. September 2026 bis 14 Uhr erreichbar. Am 04. September 2026 sind wir wieder wie gewohnt für Sie da. Vielen Dank für Ihr Verständnis.
Ihr Team von Sack Fachmedien
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Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-7855-1Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pavlov / Sachdev CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-1-4020-8363-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark160,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
1. Auflage 2006Verlag: Springer-VerlagISBN: 978-0-387-29749-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Wasserzeichen (»Systemvoraussetzungen)96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-0-387-25762-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Vassighi / Sachdev Thermal and Power Management of Integrated Circuits
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-3832-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pavlov / Sachdev CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design and Test2008. Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-8362-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Semenov / Sarbishaei / Sachdev ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-7836-0Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Semenov / Sarbishaei / Sachdev ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
1. Auflage 2008Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-8301-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark171,19 € (inkl. MwSt.)
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Sachdev / Pineda de Gyvez Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46547-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Semenov / Sarbishaei / Sachdev ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
1. Auflage 2008Verlag: Springer Nature B.V.ISBN: 978-1-4020-8300-6Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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