Ergebnisse filtern
-
- 4
- 2
-
- 1
- 4
- 1
-
- 3
- 3
- 1
- 6
- 3
- 1
- 1
- 3
-
- 4
- 2
-
- 1
- 5
-
- 6
-
- 6
-
- 6
-
Shen / Yu / Tan Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4899-8787-7Medium: Buch119,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Shen / Tan / Yu Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
1. Auflage 2014Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-0788-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Shen / Yu / Tan Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-0787-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Shi / Tan / Tlelo Cuautle Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems
Methods and Applications1. Auflage 2014Verlag: Springer USISBN: 978-1-4939-1103-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Shi / Tlelo Cuautle / Tan Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems
Methods and Applications2014Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-1102-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Shi / Tlelo Cuautle / Tan Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems
Methods and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-4795-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
