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Mess- und Automatisierungstechnik
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Bushnell Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
1996Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9673-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Beenker / Thijssen / Bennetts Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9658-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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