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Technik: Allgemeines
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8295-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7589-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Prinetto / Benso Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5391-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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