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Technische Zuverlässigkeit, Sicherheitstechnik

4  Treffer  für „Frontiers in Electronic Testing“
    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    2011. Auflage 2010
    Verlag: Springer Us
    ISBN: 978-1-4419-6992-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis | Soft Errors in Modern Electronic Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems

    2011
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4614-2689-9
    Medium: Buch
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    Tehranipoor | Emerging Nanotechnologies | Buch | Sack Fachmedien

    Tehranipoor Emerging Nanotechnologies

    Test, Defect Tolerance, and Reliability
    2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-0-387-74746-0
    Medium: Buch
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    Tehranipoor | Emerging Nanotechnologies | Buch | Sack Fachmedien

    Tehranipoor Emerging Nanotechnologies

    Test, Defect Tolerance, and Reliability
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-4513-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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