Gulati / Hawkins | IDDQ Testing of VLSI Circuits | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 124 Seiten

Gulati / Hawkins IDDQ Testing of VLSI Circuits


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4615-3146-3
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, 124 Seiten

ISBN: 978-1-4615-3146-3
Verlag: Springer US
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Autoren/Hrsg.

Gulati, Ravi K.
Hawkins, Charles F.
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