Buch, Deutsch, 182 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 514 g
ISBN: 978-3-031-53151-4
Verlag: Springer International Publishing
Dieses Buch beschreibt eine umfassende Kombination von Methoden, die den modernen Virtual Prototype (VP)-basierten Verifikationsfluss für heterogene Systems-on-Chip (SOCs) stark verbessern. Insbesondere kombiniert das Buch Verifikations- und Analyseaspekte über verschiedene Stufen des VP-basierten Verifikationsflusses hinweg und bietet eine neue Perspektive auf die Verifikation, indem es fortschrittliche Techniken wie metamorphes Testen, Datenfluss-Testen und Informationsfluss-Testen einsetzt. Darüber hinaus legt das Buch einen starken Schwerpunkt auf fortschrittliche, abdeckungsorientierte Methoden zur Verifizierung des funktionalen Verhaltens des SOC sowie zur Gewährleistung seiner Sicherheit.
- Bietet eine umfassende Einführung in den modernen VP-basierten Verifikationsablauf für heterogene SOCs;
- Stellt eine neuartige metamorphe Testtechnik für heterogene SOCs vor, die keine Referenzmodelle erfordert;
- Enthält automatisierte, fortschrittliche, auf Datenflussabdeckung basierende Methoden, die auf SystemC/AMS-basierte VP zugeschnitten sind;
- Beschreibt erweiterte funktionale abdeckungsgesteuerte Methoden zur Verifizierung verschiedener funktionaler Verhaltensweisen von RF-Verstärkern.
Zielgruppe
Professional/practitioner
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
Weitere Infos & Material
Einführung.- Vorbemerkungen.- AMS Metamorphic Testing Environment.- AMS Enhanced Code Coverage Verification Environment.- AMS Enhanced Functional Coverage Verification Environment.- Digital Early Security Validation.- Fazit.