Müller | RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range | Buch | 978-3-7315-0822-9 | www.sack.de

Buch, Englisch, 214 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 317 g

Müller

RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range


Erscheinungsjahr 2018
ISBN: 978-3-7315-0822-9
Verlag: Karlsruher Institut für Technologie

Buch, Englisch, 214 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 317 g

ISBN: 978-3-7315-0822-9
Verlag: Karlsruher Institut für Technologie

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Autoren/Hrsg.

Müller, Daniel
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