Müller | RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range | Buch | 978-3-7315-0822-9 | sack.de

Buch, Englisch, Band 89, 214 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 317 g

Reihe: Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik

Müller

RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range


Erscheinungsjahr 2018
ISBN: 978-3-7315-0822-9
Verlag: Karlsruher Institut für Technologie

Buch, Englisch, Band 89, 214 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 317 g

Reihe: Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik

ISBN: 978-3-7315-0822-9
Verlag: Karlsruher Institut für Technologie

Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This works investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.

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Autoren/Hrsg.

Müller, Daniel
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