E-Book, Englisch, Band 15, 239 Seiten, eBook
Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Erscheinungsjahr 2006
ISBN: 978-0-306-47544-3
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
E-Book, Englisch, Band 15, 239 Seiten, eBook
Reihe: Frontiers in Electronic Testing
ISBN: 978-0-306-47544-3
Verlag: Springer US
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
Technology Overview.- Memory Test and Diagnosis.- Logic Test and Diagnosis.- Embedded Test Design Flow.- Hierarchical Core Test.- Test and Measurement for PLLs and ADCs.- System Test and Diagnosis.- System Reuse of Embedded Test.