Nebel | CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik | Buch | 978-3-519-02476-7 | sack.de

Buch, Deutsch, 213 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 335 g

Reihe: XLeitfäden der angewandten Informatik

Nebel

CAD-Entwurfskontrolle in der Mikroelektronik

Mit einer Einführung in den Entwurf kundenspezifischer Schaltkreise
1985
ISBN: 978-3-519-02476-7
Verlag: Vieweg+Teubner Verlag

Mit einer Einführung in den Entwurf kundenspezifischer Schaltkreise

Buch, Deutsch, 213 Seiten, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 335 g

Reihe: XLeitfäden der angewandten Informatik

ISBN: 978-3-519-02476-7
Verlag: Vieweg+Teubner Verlag


Kapitel 3 und 4 befassen sich mit zwei Schwerpunkten der Entwurfskontrolle integrierter Schaltungen. dem Design­ Rule-Check und der Schaltkreisextraktion. Zu beiden Gebieten werden unterschiedliche Lösungsmöglichkeiten vorgestellt.

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Zielgruppe


Upper undergraduate


Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


Einführung.- 1 Nmos Schaltungstechnik.- 1.1 Einführung.- 1.2 Transistoren.- 1.3 Verbindungstechnik.- 1.4 Einfache NMOS-Schaltungen.- 2 Der VLSI Entwurfsprozess.- 2.1 Die Funktionalebene.- 2.2 Die Register-Transfer-Beschreibung.- 2.3 Die Logikebene.- 2.4 Die Schaltkreisebene.- 2.5 Die Layout-Ebene.- 3 Topographische Layoutkontrolle.- 3.1 Polygon-Orientierter Design-Rule-Check.- 3.2 Raster-Orientierter Design-Rule-Check.- 3.3 Hierarchischer Design-Rule-Check.- 4 Schaltkreisextraktion.- 4.1 Polygon-Orientierte Schaltkreisextraktion.- 4.2 Raster-Orientierte Schaltkreisextraktion.- 4.3 Hierarchische Schaltkreisextraktion.- 5 Logikextraktion.- 5.1 Knotenklassifizierung.- 5.2 Der Netzwerkbaum.- 5.3 Pfadermittlung.- 5.4 Gesamtlogik.- 5.5 Rückkopplungen.- 6 RT-Extraktion.- 6.1 RT-Extraktion auf Gatterebene.- 6.2 RT-Extraktion Funktionaler Blöcke.- 6.3 RT-Extraktion der Gesamtschaltung.- 7 Vergleich von Netzwerken.



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